報告題目：X射線干涉成像技術

報告時間：2024年6月23日下午四點

報告對象：本科生、研究生及感興趣教師

報告地點：F315

專家簡介：

趙帥，國家同步輻射實驗室特聘副研究員。2018年于合肥工業大學測控技術與儀器專業獲學士學位，2023年于中國科學技術大學儀器科學與技術專業獲博士學位。期間2022-2023年在瑞士保羅謝爾研究所與蘇黎世聯邦理工學院博士聯合培養一年，主要研究方向X射線光學。主持和參與科技部國家重點研發計劃、瑞士國家自然科學基金、中國國家自然科學基金重點項目、同步輻射聯合基金等多項項目。在Optics Express、Applied Physics Letters等國際著名學術期刊上發表多篇學術論文。擔任Optica、Optics Express、Optics Letters等期刊審稿人。

報告摘要：介紹X射線干涉成像用于面形檢測、3維重構技術；X射線聚焦技術。報告介紹使用X 射線光柵干涉儀測量 X 射線波前形狀和光學元件的面型誤差，并使用 LTP 交叉檢查斜率誤差以確認該方法的準確性，差值小于 200 nrad；搭建了實驗室級消色差X射線顯微鏡，實現百nm級分辨率。