啟航網訊  2024年6月23日下午四點在F315, 國家同步輻射實驗室特聘副研究員趙帥作了題為“X射線干涉成像技術”的學術報告。報告會由敖波副院長主持，測光學院部分教師、學生認真聆聽了報告。

趙帥副研究員從同步輻射光源的需求出發，介紹了X射線干涉成像技術。報告介紹了X 射線波前檢測技術，使用X 射線光柵干涉儀測量X射線波前形狀的面型誤差并使用 LTP 交叉檢查斜率誤差以確認該方法的準確性，差值小于 200 nrad。其次介紹了高分辨率X 射線顯微鏡，可以用來探索納米級物體內部 3D 結構。對于管式X射線顯微鏡，關鍵的光學元件是聚光鏡和物鏡，使用高精度X射線毛細管作為聚光鏡，使用消色差X射線透鏡代替菲涅爾區板作為物鏡。最后介紹了搭建的實驗室級消色差X射線顯微鏡，實現百nm級分辨率，報告還介紹了其他新型X射線成像技術。

報告結束后，趙帥副研究員就師生提出的問題進行了細心的解答，此次報告在座師生受益匪淺。